儀器儀表的老化測(cè)試和環(huán)境試驗(yàn)

工業(yè)經(jīng)常使用到的儀器，使用一定時(shí)期后，將滿足產(chǎn)品老化，老化的試驗(yàn)和環(huán)境試驗(yàn)，它可以檢測(cè)早期儀器的一個(gè)潛在故障，尤其是可以發(fā)現(xiàn)的常見故障，所以相同的儀器設(shè)備早期通過修改電路和方法恢復(fù)，有助于設(shè)備的提高耐久性和可靠性。

什么是儀器的老化測(cè)試：
 
一般的老化測(cè)試時(shí)對(duì)部分儀器儀表進(jìn)持續(xù)行長(zhǎng)時(shí)間通電運(yùn)行，并測(cè)量其平均*工作時(shí)間，分析總結(jié)這些儀器儀表的故障特點(diǎn)，找出它們的共性問題加以解決。這個(gè)“持續(xù)長(zhǎng)時(shí)間”是多長(zhǎng)?一般24小時(shí)或48小時(shí)，當(dāng)然也可以是1小時(shí)或0小時(shí)，這視乎質(zhì)量的追求以及成本的要求。老化測(cè)試也稱烤機(jī)或燒機(jī)，就是苛刻地考驗(yàn)它或“努力去燒掉它”的意思，只有那些被極力折磨過而幸存下來的產(chǎn)品才是過硬產(chǎn)品，信譽(yù)企業(yè)只會(huì)將這些賣給用戶。我們國(guó)浩電氣制造的每一部設(shè)備都經(jīng)過極其嚴(yán)格的老化測(cè)試過程，從而確保到達(dá)用戶手中的設(shè)備都是質(zhì)量*的。

什么是儀器的環(huán)境試驗(yàn)：
 
環(huán)境試驗(yàn)一般而言是根據(jù)儀器儀表的工作環(huán)境而確定具體的試驗(yàn)內(nèi)容，并按照國(guó)家規(guī)定的方法進(jìn)行試驗(yàn)。環(huán)境試驗(yàn)一般只對(duì)產(chǎn)品抽樣進(jìn)行，常見的環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容和方法如下：
 
（1）溫度試驗(yàn)

溫度試驗(yàn)用以檢查溫度環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性，它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)用以檢查高溫環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。它包括高溫負(fù)荷試驗(yàn)和高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。低溫試驗(yàn)用以檢查低溫環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。它包括低溫負(fù)荷試驗(yàn)和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。溫度負(fù)荷試驗(yàn)是將樣品在不包裝、不通電和正常工作位置狀態(tài)下，把儀器儀表放入溫度試驗(yàn)箱內(nèi)，進(jìn)行額定使用的上、下限工作溫度的試驗(yàn)。
 
（2）振動(dòng)和沖擊試驗(yàn)

振動(dòng)試驗(yàn)檢查儀器儀表經(jīng)受振動(dòng)的穩(wěn)定性。其方法是將樣品固定在振動(dòng)臺(tái)上，經(jīng)過模擬固定頻率（50HZ）、變頻（5-2KHZ）等各種振動(dòng)環(huán)境進(jìn)行試驗(yàn)。在一定頻率范圍內(nèi)進(jìn)行一次循環(huán)結(jié)束后，按規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)。比如說SF6氣體微量水分分析儀，就必須避免振動(dòng)和沖擊，實(shí)驗(yàn)證明因?yàn)楦叻肿颖∧る娙菔綕穸葌鞲衅魅菀资艿經(jīng)_擊而損壞，SF6氣體微量水分分析儀就不能工作。
沖擊試驗(yàn)用以檢查儀器儀表經(jīng)受非重復(fù)機(jī)械沖擊的適應(yīng)性。其方法是將樣品儀器或者儀表固定在試驗(yàn)臺(tái)上用一定的加速度和頻率，分別在樣品的不同方向沖擊若干次。沖擊試驗(yàn)后檢查其主要技術(shù)指標(biāo)是否仍符合要求，有無機(jī)械損傷。
 
（3）運(yùn)輸試驗(yàn)

運(yùn)輸試驗(yàn)是檢查儀器的包裝，儲(chǔ)存，運(yùn)輸能力。方法樣品固定在試驗(yàn)臺(tái)上，也可安裝在卡車運(yùn)行，具體方法按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。運(yùn)輸試驗(yàn)根據(jù)規(guī)定檢測(cè)儀的主要技術(shù)指標(biāo)及性能。
一言蔽之，老化測(cè)試和環(huán)境試驗(yàn)都是為了檢查產(chǎn)品的可靠性。一般在緊接著加工過程之后，對(duì)線路板及元器件都會(huì)有老化測(cè)試和環(huán)境試驗(yàn)。